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首先我們應先理解了ICP-MS的工作原理，調諧的*終目的是1、獲得*好的靈敏度，我們可以理解以信噪比來體現；2、*大的消干擾，我們暫理解為以質荷比來體現（目標的定性就是通過質荷比或設定的質荷比）。

現以Agilent7700為例，將部分常調節的調諧參數列出，并附上個人的理解建議，供大家參考（無論是cool還No gas模式調諧調的參數基本差**）：

a、   采樣深度。

調這個參數分兩種情況1、難電離元素應當適當增大采樣深度，即增加了難電離元素在等離子體中的路程，進而延遲了難電離元素在ICP中電離的時間，使難電離元素得到充分電離，但是過度的延長會增加二次電離的幾率，從而會形成雙電荷離子，因此單一看此參數的效果就和開口向的拋物線是一樣的，需要我們找到一個*佳點；2、易電離元素與之相反，應當適當縮短采樣深度，但是同樣的如果過度縮短采樣深度會使該電離的元素未充分電離。綜上既要得到*佳的目標值，又要降低干擾，需要有一個指標來確認，這就是我們為什么要看調諧液各參數的信號值的原因。

b、   霧化氣。

增大會增加進樣量，元素的電離量也會增大，但同時干擾的離子也會增加；而且過大的流量會使等離子體溫度降低，進而影響元素的電離率。如上所述，也需要尋找一個*佳點。（此參數對信號值的影響非常明顯，也是常調節的參數）。

c、    霧化室溫度。

來保證樣品在霧室內形成很好的霧狀樣品，一般設置為2℃。

d、   透鏡。

通過改變電壓，定向選擇目標離子通過，進入下一級系統。大家可以根據儀器實際的信號值做出相應調整。

e、   碰撞池。

使用的氣體一般是氦氣，因為氦氣的**電離能比氬氣還大，更加穩定，更不易電離，進不用擔心再額外產生干擾離子。用氦氣去碰撞在前期等離子體中形成的多原子干擾離子，比如ArO+，將這種對Fe+產生干擾的且相對不穩定的多原子離子撞開，來消除干擾。但是必須要調節好流量，過高的流量也會將目標離子撞飛，使大量目標離子無法進檢測器，從而會使信號值降到很低（此處流量設置很關鍵，有些用戶為了達到很好的背景，流量設置不合理，同時也把目標信號值降下來了，導致后續好多元素無法檢出）。

綜上是對調諧的簡單建議，后續會給大家介紹ICP-MS具體的干擾及消除。