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標準化性能：

·絕緣體分析

·高性能XPS性能

·深度剖析

·多技術聯合

·雙模式離子源，使深度剖析功能得到擴展

·用于 ARXPS 測量的傾斜模塊

·用于儀器控制、數據處理和報告生產的 Avantage 軟件

·小束斑分析

可選的升級：可將多種分析技術集成到您的檢測分析中。式自動運行

·ISS：離子散射譜，分析材料表面1-2原子層元素信息，通過質量分辨可分析一些同位素豐度信息。

·UPS：紫外光電子能譜用于分析金屬/半導體材料的價帶能級結構信息以及材料表面功函數信息

·拉曼：拉曼光譜技術用于提供分子結構層面的指紋信息

·REELS：反射電子能量損失譜可用于H元素含量的檢測以及材料能級結構和帶隙信息