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Agilent7800 ICP-MS電感耦合等離子體質譜儀

快速提高常規金屬分析效率 — ICP-MS MassHunter 軟件包括預設方法，這些方法可輕松載入并以預定義設置（從等離子體條件到分析物積分時間和內標）運行。對于新方法，方法向導可基于樣品類型和應用創建方法。

減少樣品前處理 — 7800 ICP-MS 標配的高基質進樣 (HMI) 技術，無需稀釋即可分析總溶解態固體 (TDS) 含量 3% 的樣品，減少了樣品前處理并節省了時間。

減小信號抑制 — HMI 可減小信號抑制，因此可以準確測定高基質樣品而無需基質匹配的校準標樣。

確保數據準確性 — 氦 (He) 碰撞模式可在同一套質譜條件下多原子離子干擾，簡化了方法開發與日常操作。模式無需針對特定基質或分析物的反應池條件。

在一次運行中同時分析常量和痕量元素 — 寬動態范圍正交檢測器系統 (ODS) 可在一次運行中實現常量元素（數百或數千 ppm）與痕量元素（ppt 或亞 ppt 級）的直接分析。較高的濃度上限可減少由超量程結果造成的樣品再運行。

提高通量和分析效率 — 可選的集成進樣系統 (ISIS 3) 和 SPS 4 自動進樣器可在不影響數據質量的前提下降低分析的成本。